高低溫試驗(yàn)箱適用于電焊工、電子設(shè)備、儀表設(shè)備及其商品、零部件及原材料在寒濕自然環(huán)境下儲存、運(yùn)輸和應(yīng)用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各種電子設(shè)備、焊工、家用電器、塑料等原材料和部件的可靠性試驗(yàn)機(jī)械設(shè)備；非常適用于光纖線、液晶顯示屏、結(jié)晶、電感器、pcb電路板、充電電池、電腦、手機(jī)等商品的耐熱、耐溫、耐濕冷循環(huán)系統(tǒng)試驗(yàn)。

       為了保證自然環(huán)境的試驗(yàn)程度，人們必須糾正其特點(diǎn)。在這個(gè)階段，在整個(gè)校正過程中，關(guān)鍵可以選擇幾種不同的方法。事實(shí)上，在進(jìn)行校正時(shí)，人們必須根據(jù)具體情況選擇合適的方法來糾正高低溫試驗(yàn)箱。

       為了保證選擇的準(zhǔn)確性，人們必須首先適當(dāng)?shù)亓私膺@些不同的校正方法，特別是分析和科學(xué)研究各自的優(yōu)缺點(diǎn)。以下是這些不同校正方法的優(yōu)缺點(diǎn)：

       一種校正方法的關(guān)鍵是在零負(fù)荷下進(jìn)行校正。相比之下，這種方法的關(guān)鍵優(yōu)點(diǎn)是可以在自然環(huán)境箱的所有工作區(qū)域進(jìn)行校正，合理評價(jià)試驗(yàn)箱的可接受性。更換試驗(yàn)產(chǎn)品后，無需再次校正。

       那么，這種校正的缺陷是什么呢？包括一點(diǎn)，也就是說，人們不能立即知道測試產(chǎn)品會(huì)對高低溫試驗(yàn)箱的特性造成什么危害。兩種校正方法是在負(fù)荷下進(jìn)行校正。

       相比之下，這種校正方法具有突出的優(yōu)點(diǎn)，包括：可以準(zhǔn)確檢測常用試驗(yàn)產(chǎn)品對高低溫試驗(yàn)箱特性的危害，有利于獲取試驗(yàn)產(chǎn)品關(guān)鍵部位自然環(huán)境試驗(yàn)的詳細(xì)信息。這種方法也是一個(gè)缺陷，例如，在拆卸和更換測試產(chǎn)品后，必須再次進(jìn)行校正。